SafedTech NDT · TesTex / Ionix / Flyability 合作品牌400 164 2016
技术问答

LFET 能保证发现所有微小点蚀吗?

先读结论,再核对适用条件、现场验证和资料。

专业回答

不能。点蚀的直径、深度、分布与探头感应体积共同影响可检出性,狭小深坑可能与较大面积减薄呈现不同信号。应先定义目标缺陷并验证代表性试样;对于疑似严重点蚀或不能定量的区域,采用密集网格 UT 或合适的其他方法确认。

现场核对与实施要点

分别使用局部深坑和宽面积减薄参考区域验证,避免只用单一缺陷形状。

适用条件与验证

根据本站对应产品、原厂资料及现有方案整理的技术导读;项目应用需结合实际配置验证。

本站整理日期:2026-10-11 · 内容类型:技术问答。产品参数和检验判断需按实际配置及项目要求核对。

TesTex Triton II LFET 产品示意图
TesTex Triton II LFET 产品示意图;用于说明关联设备,具体配置见产品页。

资料依据与延伸阅读